OBT1553B-CTS-II滿足GJB5186.5中對1553B電纜測試設(shè)備的要求，主要功能特點如下：

?測試對象規(guī)模：
通訊速率為1M bps的短截線端點可達32個的1553B電纜網(wǎng)絡(luò)；
?電纜網(wǎng)絡(luò)連接關(guān)系測試功能：
連接關(guān)系測試是為了快速有效地檢查出被測總線線纜網(wǎng)絡(luò)中的生產(chǎn)和加工缺陷。連接性測試主要測試被測網(wǎng)絡(luò)的電氣特性。包含有：
?檢測總線網(wǎng)絡(luò)上主線、子線、負載的接線關(guān)系是否正確；
?檢測網(wǎng)絡(luò)中是否有短路、斷路故障，并確定故障點；
? 檢測是否有故障耦合器，并定位有故障的耦合器；
? 確定子線或主線是否有極性反向錯誤。
?線纜絕緣性能測試功能:
實現(xiàn)對總線網(wǎng)絡(luò)的子線屏蔽層和信號線之間、無電氣連接關(guān)系的電纜芯線之間的絕緣性能進行檢測，如：總線兩芯線與屏蔽層之間、子線兩芯線與屏蔽層之間、總線和子線間的絕緣測試。

?連續(xù)性測試功能
實現(xiàn)對總線連續(xù)性測試、子線連續(xù)性測試和屏蔽層連續(xù)性測試。
?總線特性阻抗測試功能
實現(xiàn)對網(wǎng)絡(luò)的總線特性阻抗測試和子線特性阻抗測試。
?衰減測試功能
實現(xiàn)對網(wǎng)絡(luò)的總線衰減測試和子線衰減測試。
?1553B電纜網(wǎng)絡(luò)信號波形特性測試
波形測試主要是用來驗證總線網(wǎng)絡(luò)設(shè)計的拓撲結(jié)構(gòu)是否合理。波形測試的測試內(nèi)容包括：
?發(fā)送/接收電平、峰-峰值電壓測試；
?上升/下降時間測試；
?波形對稱性測試；
? 過零點畸變測試；
? 波形畸變。
?1553B電纜網(wǎng)絡(luò)協(xié)議功能測試
檢查被測總線電纜網(wǎng)絡(luò)對總線消息傳輸誤碼率的影響。
?動態(tài)故障影響測試功能
總線網(wǎng)絡(luò)的動態(tài)故障影響測試是為了驗證總線網(wǎng)絡(luò)是否具有能夠可靠工作的能力;當任何短截線上出現(xiàn)間歇性短路故障時，驗證總線網(wǎng)絡(luò)能可靠工作的能力。
?共模抑制
共模抑制測試是為了驗證總線網(wǎng)絡(luò)在注入共模信號的條件下正常工作的能力。
? 數(shù)據(jù)通路的完整性
數(shù)據(jù)通路的完整性測試是為了驗證總線網(wǎng)絡(luò)中每個數(shù)據(jù)通路收發(fā)消息數(shù)據(jù)的正確性和完整性。
? 余雙度總線間的隔離
雙余度總線間的隔離測試是模擬雙冗余總線的實際使用環(huán)境，驗證活動總線和被測量總線之間的信號隔離度。
?測試配置功能：
用戶可自行定義測試方式以及測試項目；
?判斷標準設(shè)置功能：
用戶可自行定義測試判斷標準，判斷標準默認值為GJB5186.5的規(guī)定值；
?測試結(jié)果輸出功能；
? 測試結(jié)果實時顯示，最終生成測試結(jié)果報表輸出；
? 系統(tǒng)自動保存測試過程中產(chǎn)生的波形，用戶可任意瀏覽歷史波形；
?校準功能；
?系統(tǒng)自檢功能；
? 系統(tǒng)校準功能。

產(chǎn)品性能參數(shù)

?系統(tǒng)集成了6位半的數(shù)字萬用表，進行連續(xù)性測試時電阻精度值不大于5mΩ；

?系統(tǒng)集成了高速電子開關(guān)，進行動態(tài)故障影響測試時高速電子開關(guān)的接通電阻小于5Ω，開關(guān)時間小于1μs，動作頻率為（30±3）KHz；
?系統(tǒng)集成了垂直分辨率為8bit、采樣率為2.5GSa/s的數(shù)據(jù)采集模塊，進行波形畸變測試時，電壓精度值不大于1mV，在進行過零點畸變測試時，時間精度值不大于1ns；
?系統(tǒng)集成了1553B雙通道通訊模塊，所發(fā)出的消息波形的過零點畸變在±10ns之內(nèi)；
?系統(tǒng)的1553B信號輸出過零點畸變不大于10ns，波形拖尾殘余電壓不大于10mV；
?使用環(huán)境要求：
?工作濕度：≤ 90%（40℃）；
? 工作溫度：0℃～+45℃；
? 存儲溫度：-20℃～+55℃。
?外形尺寸： 600mm×800mm×1833mm (L×W×H)；
?凈重：200±1.5kg；
?電源輸入：100～120/200～240V @ AC；
?測試接口：
提供32路短截線測試接口和2路主總線測試接口，連接器采用瑞侃DK-621-0440-4S，中心芯點為信號正，中間芯點為信號負，最外層為屏蔽層。測試接口可定制。

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